Исследователи Томского политехнического университета и Тверского государственного технического университета нашли способ повысить до десяти раз точность микроскопов с нанометровым разрешением, предложив метод компенсации колебаний иглы микроскопа, которые оказывали негативное влияние на качество изображения. Результаты опубликованы в журнале Applied Surface Science Volume.

Ученые ТПУ и ТвГТУ проанализировали смещения наконечника иглы SWCNT от положения равновесия, воспользовавшись моделью математического маятника, создали модель уравнения колебаний иглы и установили аналитическую связь параметров иглы с характеристиками ее неустойчивости.

Предложенный метод компенсации колебания иглы, по словам ученых, предотвращает негативное влияние ее вибрации на качество изображения сканирующего микроскопа, уменьшая размытие сигнала. Это обеспечивает более высокую степень точности определения фрагмента исследуемой поверхности — от двух до десяти раз в зависимости от ее топографии и соразмерности ее неровностей размеру иглы.

В дальнейшем специалисты планируют исследовать возможность создания игл SWCNT с заданными параметрами осцилляции путем размещения в нужной последовательности атомов выбранных материалов, учитывая влияние выпадения или отсутствие атомов в листе SWCN. Это может быть полезным для многих наноотраслей, например для медицины при воздействии изнутри на внутренние стенки сосудов.

Источник: РИА Новости